KARMAŞIK ELEMANLAR:

Biraz daha ilerlemek için 1-2 temel prensibi ve deneyi hatırlıyalım: Fraunhofer & Young , tek ve çift yarık deneyleri...


Monokromatik bir ışık için tek yarık kullandığımızda sadece dağınım, çift yarık varsa ilave olarak girişim bekleriz.

    

Her 2 temel mekanizma birleştiginde


Yarık sayısını arttırırsak:



Parametreler ile biraz oynamak ve hissetmek için:
TIKLAYIN


Saçınım Ağı (Dağınım ?, Diffraction Grating):


Yarık sayısı çok arttırıldığında hayalet yapısı azalır maksima olan yerler belirginleşir. Aşağıdaki yapıya bakalım:




Saçılan ışık için parlaklık dağılımı tek ve çift yarık katkıları olarak yazılabilir



Açısal sapma ve
Çözünürlük


Serbest tayf aralığı


Ufak bir hesap yaparsak:

150 cm ayna çaplı bir teleskop ve 5 cm çaplı bir tayf çeker için:
d1=5 cm, D=150 cm, λ=5000Å, Φ=1", β=17o
çözünürlük: R ~ 4000



Fn 2 nasıl davranıyor?

m=0 için maksimum veriyor ama burada R=0.

Ne yapalım?

Fn 1 ve Fn 2 maksimalarını çakıştırmak için saçınım ağının yansıtıcı yüzeyleri δ (blaze açısı) kadar eğilir. Bu miktar hangi Fn 2 m>0 dizisinin Fn 1 maksimumu ile çakıştırılmak istendiğine bağlıdır.


Blaze açıları:

&delta = 1-20o normal, &delta = > 50o ECHELLE ağ.


Littrow şartı (α = β) geçerli olduğunda, kamera odak düzleminde "plate" faktörü mm/Å olarak:



Küçük f2:
Hızlı Kamera.

En yüksek çözünürlük ise:




En çok kullanılan konfigürasyonlar


Daha yüksek blaze açıları için




GRIZM Kulanılırsa?

Bu durumda kullanılacak ağ genelde bir cam plaka veya prizma üzerine yapıştırılır.

Basit bir örnege bakarsak







ECHELLE

Normal ve Echelle ağ arasında ne fark var?




  • dβ/dλ normal saçınım ağına göre 5-10 kere büyük.
  • Düşük yiv ("groove") sayısı, 30-300 yiv/mm.
  • Büyük m ("order") değerlerinde kullanım, 10-100.
  • Üzerinde yiv olan alan 200x400 mm kadar büyük olabilir.
  • m büyük olduğundan bütün "order" lar üst üste çakışıyor.
  • Çakışmayı açmak için 90o açılı bir prizma veya ağ gerekir ("cross disperser").
  • Büyük giriş ve sapma açılarında kullanım.
  • Genelde yüksek çözünürlük.


DEVAM
11 Agustos 2008 İKÜ Ümit Kızıloğlu